เครื่องวิเคราะห์ความหนาด้วยหลักการ X-Ray Fluoroscence
การวิเคราะห์ความหนาด้วยหลักการ X-Ray Fluorescence (XRF) การวิเคราะห์ความหนาด้วย XRF คืออะไร? การวิเคราะห์ความหนาด้วยเทคนิค X-Ray Fluorescence (XRF) เป็นกระบวนการที่ใช้ในการวัดความหนาของชั้นวัสดุต่างๆ บนพื้นผิวของวัสดุหลัก เช่น ฟิล์มโลหะที่เคลือบอยู่บนแผ่นพลาสติกหรือแผ่นโลหะอื่นๆ XRF เป็นเทคโนโลยีที่ใช้หลักการของการปล่อยแสงเอกซ์เรย์จากอะตอมเมื่อถูกกระตุ้นโดยแสงเอกซ์เรย์แรก เมื่อแสงเอกซ์เรย์ที่ปล่อยออกมานั้นถูกวัดและวิเคราะห์ จะสามารถบอกถึงชนิดของธาตุและความหนาของชั้นวัสดุได้อย่างแม่นยำ […]